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上开式

Open top结构是专门为半导体芯片可靠性测试提供的一款老化针可定制的老化座结构，具有可定制、高可靠、低成本的特点。
产品特点
• 处理芯片长宽高：6 ~ 12mm • 心片点数：200 pin max • 跨距：0.40mm ~ 0.80mm • 探头战斗力：15gf ~ 26gf per pin • 平均温度比率：-55ºC ~ +150ºC
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