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射频高速测试座

射频高速测试插座是专为5G通信芯片、毫米波雷达芯片、高速接口芯片（QFN/QFN等扁平引脚封装）设计的测试接口组件，采用了z系列端子，核心功能是指定频段内实现低损耗、低反射的信号传输，同时保证机械连接的稳定性与电气性能的一致性。
产品特点
• 排距：≥0.3mm • 直流电：≥3-5A • 低阻值及自感，较好耐腐性及自擦洗 • 带宽起步：≥15-40GHz@-1dB • 适于QFN/DFN & LGA等打包封装
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