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MEMS 探针卡

MEMS探针卡主要应用于先进制程晶圆的测试，具有小间距、高同测数、高针数等显著优势。
产品特点
• 针尖 Over Drive: 50um-150um • 安全距离: ≥ 45um • 高针数: 40k+ • 符合Kelvin 测试测试 • 试验误判率: ≤1% • 三温自测: -55°C~175°C
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