在耐用性试验中,衰老试验试验座起比较偏重要用处,它采用虚拟电源单片机芯片在长期限选择的过程 中的衰老试验现象,以测评电源单片机芯片的耐用性。

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老化测式测式座,能信性强,精密较高、保持稳定高、能信高、可来样加工化,可使用于HTOL、HAST甚至二极管封装后的很多IC芯片测式。
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