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UIG产品速递 | ​​​老化测试座 Burn-in Socket

日期:2024-11-22
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在耐用性试验中,衰老试验试验座起比较偏重要用处,它采用虚拟电源单片机芯片在长期限选择的过程 中的衰老试验现象,以测评电源单片机芯片的耐用性。  

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  mk体育 老化测式测式座,能信性强,精密较高、保持稳定高、能信高、可来样加工化,可使用于HTOL、HAST甚至二极管封装后的很多IC芯片测式。   我公司可能提供独自恒温手测盖的处理好方案设计,手测盖原有加熱仪器,嵌入加熱部件及室温感测器器,可接触流程恒温程序,并设备水冷器+,散热处理器风扇水冷程序,不要中高温槽也是可以确定的老化检测。

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